1. 外協服務

    —— 分析檢測

    超聲波探傷檢測(C-Scan)

      超聲波探傷儀是利用超聲波能透入金屬材料深處的特性,從而對金屬材料內部的缺陷進行檢測的方法,檢測中超聲波由一截面進入另一截面,在界面邊緣發生反射,當超聲波束自材料表面通至金屬內部,遇到缺陷與材料底面時就分別發生反射波,在熒光屏上形成脈衝波形,根據這些脈衝波形來判斷缺陷的位置和大小。主要用於各種金屬及非金屬材料內部夾雜、氣孔、裂紋等缺陷分析以及產品焊接後的焊接結合率檢測。具有靈敏度高,操作便捷、無損傷、精密度高等優點。


    X射線衍射儀

       Rigaku 靶材晶向比例分析系統(XRD)可直接用於檢測直徑在500mm以下的固體金屬材料的內部織構。X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,當X 射線照射晶態結構時,將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射。當用波長爲λ的單色X射線照射到兩個晶面間距爲d的晶面時會發生布拉格定律衍射,即2dsinθ=nλ(n爲整數)θ稱爲衍射角(入射或衍射X射線與晶面間夾角)。應用X射線在晶體中的衍射現象。特徵X射線作用於安裝在測角儀上的晶體後產生衍射點,通過檢測器記錄衍射點的強度數據。通過計算機控制完成衍射的自動尋峯、測定晶胞參數、收集衍射強度數據,統計系統消光規律,確定空間羣等。進而計算晶體結構。


    電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP-OES)

      ICP-OES 通過高頻裝置使氬氣電離,形成溫度可達10000k的等離子焰炬。激發產生不同的發射光譜,並依照此原理進行痕量元素的定量測定。該設備具有獨特的智能光譜組合 (DSC) 技術,能夠實現同步的水平和垂直測量。能夠以少的氬氣用量分析最具挑戰性的樣品,檢測速度快、效率高,並且不會對分析性能造成任何影響。ICP-OES可分析78種元素,精密度高、相對標準偏差小、定量範圍寬,檢測精度可從ppb級別到百分比級別。由於等離子體溫度極高,因此化學幹擾少。適合用於食品、環境、金屬中的痕量元素和部分非金屬元素的分析。同時也可測試基體中含有有機溶劑的樣品或者直接測試油品等有機樣品。

     


    直讀光譜儀

      直讀光譜儀適用於鋼鐵、鋁、鎂、銅、鋅、錫、鈦等各種固體金屬的基體金屬、合金中的組成元素、雜質微量元素的定量。應用於這些金屬的冶煉工業和機械加工工業的工程管理分析、原材料驗收以及產品出廠鑑定分析等。該設備的特點在於:1、可多元素同時檢測;2、分析速度快;3、準確度高;4、設備的波長範圍是130nm~500nm,對各種金屬雜質的檢測限度可達10ppm。


    輝光放電質譜儀(GDMS)

      輝光放電質譜法作爲一種固體樣品直接分析技術 ,廣泛應用於金屬、半導體等材料的痕量和超痕量雜質分析。隨着制樣方法和離子源裝置的改進 ,GDMS同樣也能很好地應用於玻璃、陶瓷、氧化物粉末等非導體材料的成分分析。本分析儀器的特點:一、檢測範圍廣,檢測限從Sub-ppm-ppb,可直接分析各種形態固態樣品,避免了可能出現的制樣污染。並且可以測定元素週期表中所有元素,包括C、N、O等輕元素;二、分析靈敏度高,檢測極限低,對大多數金屬元素的檢測極限可低至0.1-0.001ng/g;是高純材料雜質成分分析的有效方法。



    液體顆粒計數器(LPC)

      液體顆粒計數器(LPC)是微粒計數領域質量控制和研究應用中的佼佼者。當液體中的微粒通過窄小的檢測區時,由於被不溶性微粒阻擋從而使傳感器輸出信號發生變化。依照此原理,LPC可以準確檢測出待檢樣品中微粒數量。檢測精準,流速可控,可以處理全範圍的樣品體積,從1毫升到大於1000毫升均能實現精準測量;檢測範圍廣,通過可互換的傳感器,實現從0.5μm到600μm的顆粒粒徑業界最小的樣本檢測;同時LPC操作簡單,取樣方便,廣泛應用於醫藥級科研測試以及金屬中不溶物的檢測領域當中。

     


    氣體分析儀器介紹

      在半導體領域中,磁控濺射鍍膜工藝對靶材所含的氣體和夾雜異常敏感,因爲氣體和夾雜會導致等離子體異常放電和顯微顆粒的噴射,破壞和降低濺射薄膜質量,導致薄膜缺陷增加,控制濺射靶材中氣體和夾渣對控制濺射薄膜質量有巨大影響。本公司擁有美國LECO公司的最新型號的三臺氣體分析儀,分別爲CS844,ON836,RHEN602,可以用於高純金屬材料當中氣體元素的檢測。三臺分析儀的優點是1.分析速度快2.準確性高 3.氣體元素含量檢測限低,CSON元素能達到1ppm,H含量能達到0.1ppm級別 4.具有較高的自動化配置,自動清掃裝置,外加分析界面的觸摸屏和靈活適用的軟件,對返工樣品可插入操作,不需要重新輸入試樣標識等。

     


    掃描電鏡

       掃描電鏡主要是利用二次電子信號成像來觀察金屬或非金屬材料的表面形態。該儀器對樣品尺寸及形狀沒有限制,可直接觀察大試樣的原始表面,粗糙表面也能觀察,免除了製備樣品的麻煩,而且能真實觀察試樣本身物質成分不同的襯度。景深較大,可用於觀察材料斷口,所得圖像富有立體感,可獲取更多的細節信息。樣品室的空間較大,試樣可在三度空間內有6個自由度(即三度空間平移、三度空間旋轉)活動。

      OxfordEDX是根據入射電子使內層電子激發,產生特徵X射線來定性分析元素種類及含量。該技術的特點是:1.快速,"初步"成分分析;2.多功能、便宜,廣泛適用;3.進行某些樣品的定量分析(平坦、拋光和均勻);

      Oxford EBSD主要特點是在保留掃描電子顯微鏡的常規特點的同時進行空間分辨率亞微米級的衍射。在掃描電子顯微鏡(SEM)中,入射於樣品上的電子束與樣品作用,在每一個晶體或晶粒內規則排列的晶格面上產生衍射。從所有原子面上產生的衍射組成"衍射花樣"可用於EBSD相鑑定。通過EBSD技術,檢測材料的晶粒取向、取向差、晶界屬性分析、藉助層切技術的3D組織重構、晶粒內部取向梯度等,以及與菊池花樣相關的拓展應用,如缺陷密度評價、物相分析等。


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    钱柜777電子分析檢測中心獲得CNAS認可



    —— 加工業務

    熱等靜壓服務


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    設備名稱:大型熱等靜壓機

    最大壓力:130MPa

    最高溫度:1400℃

    工作室直徑:750mm

    工作室高度:1500mm


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    設備名稱:超大規格熱等靜壓機

    最大壓力:200MPa

    最高溫度:1400℃

    工作室直徑:1250mm

    工作室高度:4400mm



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    設備名稱:超級雙兩千熱等靜壓機

    最大壓力:200MPa

    最高溫度:2000℃

    工作室直徑:770mm

    工作室高度:1700mm


    我司的熱等靜壓機及真空熱壓燒結爐可以承接批量產品的生產和大專院校的實驗性生產

    歡迎廣大客戶來電諮詢洽談!


    聯繫人:曹先生

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